L64 激光接收器测试系统

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产品型号 760353

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参数 版本A 版本B 版本C 版本D
平行光管类型 离轴,反射式 离轴,反射式 离轴,反射式 离轴,反射式
平行光管口径 150mm 150mm 150mm 150mm
平行光管分辨率 > 50 lp/mrad > 50 lp/mrad > 140 lp/mrad > 140 lp/mrad
辐射中心波长
(可选其他波长)
1064±1nm 1064±1nm 1064±1nm 1064±1nm
光谱带宽 ≤2 nm ≤2 nm ≤2 nm ≤2 nm
平行光管输出端功率不均匀性 ≤10% ≤10% ≤10% ≤10%
计算机控制的脉冲宽度,PRF 支持 支持 支持 支持
脉冲时间宽度范围/调节类型 20-100nm 10-500nm,连续调节 10-500nm,连续调节 10-500nm,连续调节
脉冲时间宽度分辨率 10ns 0.5ns 0.5ns 0.5ns
脉冲时间宽度时间稳定性 3ns 1ns 1ns 1ns
脉冲时间宽度不确定性 10% 5% 5% 5%
脉冲重复频率范围(内部同步模式) 10 Hz – 10 kHz 1Hz – 20 kHz 1Hz – 20 kHz 1Hz – 20 kHz
脉冲重复频率范围(外部同步模式) 0.1 to 10 kHz 0.1 to 20 kHz 0.1 to 20 kHz 0.1 to 20 kHz
PRF稳定性 1 μs raster
0.001% at 10Hz
1 μs raster
0.001% at 10Hz
1 μs raster
0.001% at 10Hz
1 μs raster
0.001% at 10Hz
平行光管出口处辐射度(对于最大靶标) 1μW/cm2 到0.1mW/cm2 50nW/cm2 到0.1mW/cm2 50nW/cm2 到0.3mW/cm2 50nW/cm2 到0.4mW/cm2
峰-峰不稳定性(峰值功率) <5% <2.5% <2.5% <2.5%
峰值功率调节类型 1) 手动步进光衰减器;
2) 连续电子调节
1) 手动步进光衰减器;
2) 连续电子调节
1) 手动步进光衰减器;
2) 连续电子调节
1) 连续电控步进光衰减器;
2) 连续电子调节
连续电子调节动态范围 5:1 10:1 10:1 10:1
LET测试系统用于在实验室环境下对于激光测距机参数的扩展性测试,而不需要必要且频繁的野外测试的时间消耗。LET测试系统既支持测试设计参数与最终性能参数,也支持轴对准测试,第一组测试参数包括脉冲能量,脉冲峰值功率,脉冲宽度,脉冲频率,光束发散角,接收器灵敏度等,第二组测试参数包括测距精度,距离判别,消光比等。轴对准偏差可以理解为发射器光轴与对准轴之间的夹角以及接受器光轴与对准轴之间的夹角。
以上所提到的非常宽的测试范围可以由LET测试系统的双重设计而实现,测试系统可以由以下两种模式工作:电子模拟模式与光纤模拟模式。在第一种模式中,使用先进的电力模块用于测试被测试激光测距机发射器产生的脉冲参数以及产生光脉冲到被测试激光测距机的接收器;在第二种模式中,反射脉冲的模拟使用光纤与高技术标定的衰减器的回路耦合实现。在以上两种工作模式中,当激光测距机处于大气环境下,且用于发射一个角尺寸及衰减可调节的小型目标时,则LTE测试系统可以用于模拟野外测试。
LET测试系统对于需要测试激光测距机设计参数以及生产线及科研工作的团队来说是最优的选择,以及用于确定最终的性能参数。
LET测试系统在LT测试系统系列中是最先进的测试系统,由Inframet设计生产用于支持测试激光测距机以及可选的激光指示器。
功能
  • 两个模块模拟位于不同位置的目标
  • 一些由电子模拟测试得到的参数可以由光纤模拟测试进行验证
  • 非常宽的测试范围
  • 支持测试单脉冲与多脉冲的激光测距机。
  • 工作在所有典型波段的激光测距机可以被测试,905/910 nm, 1060nm, 1540nm, 1550nm,1570nm。
  • 支持模拟六个不同角尺寸的目标(0.25 mrad 到 4 mrad)。
  • 完全计算机控制的测试系统,激光测距机的目标距离,靶标尺寸,系统衰减可以由计算机控制,入射脉冲为数字化的记录并分析。
  • LTE测试系统模拟真实野外环境条件。用户看到小的目标并且进行激射,距离测试指示只放激光束照射目标时进行。
  • 支持测试匹配有与夜视设备通道的激光测距机。
  • 最优化的设计用于测试双通道的配有内部对准通道的激光测距机,同时也支持测试其他类型的激光测距机。

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