光斑分析仪
光斑分析仪
光斑分析仪
光斑分析仪有光束分析仪 BeamOn WSR、 BeamOn HR 1″ 光斑分析仪、M²激光束质量分析仪等系列。其中BeamOn WSR、光束分析仪BeamOn U3两个系列,可测量连续光和脉冲光的光束轮廓、光束质心和位置的完整测试站,可以测量激光束的各种参数,如:强度分布、束宽、形状、位置和功率,软件还提供光束分析设置和结果的报告功能。
 
  • BeamOn WSR:宽光谱范围 190nm 至 1600nm CCD 光束分析仪
  • Beam On U3-E:创新的光束分析仪 (1/1.2")
  • BeamOn HR 1" :具有2000万像素,宽光谱范围从深紫外到1350 nm
  • M²激光束质量分析仪:配置风冷束流采样器,可以实现高功率的检测
  
波长 633nm 980nm 1310nm 1550nm
饱和度 20 µW/mm² 100 µW/mm² 0.2 W/mm² 2 W/mm²
灵敏度 优于1 nW/mm² 优于 1 nanoW/mm² 200 µW/mm² 2 mW/mm²

 
主要软件功能
  • 实时光斑尺寸和高斯拟合(或平顶)
  • 实时光束的2D/3D示意图
  • 触发信号可调
  • 软件控制的电子快门和增益
  • 带回放的视频、快照文件
  • 通过 RS232 或 TCP/IP 将数据导出到另一台计算机
  • 详细统计数据记录
  • 包含从应用程序控制软件的 DLL 包
  • 自动合格/不合格分析报告
  • 电动滤光片转轮提供更宽的动态范围
  • 缩放
  • 平均

电脑要求
Pentium IV,双核,2GHz,512MB RAM,64MB 16 位彩色 VGA 卡,分辨率 1024x768,CD ROM (任何类型),高速 USB2.0 端口,操作系统 Win/ 2000/ XP/ Vista/ 7, 32位 /7, 64 位/8/10。

系统性能
可见光350-1600nm
紫外-近红外190-1600nm(* )
产品列表

光束分析仪 BeamOn WSR

光束分析仪 BeamOn WSR
宽光谱范围 190nm 至 1600nm CCD 光束分析仪
BeamOn-WSR系统是一种用于连续或脉冲激光束实时测量的光束诊断测量系统。它用于测量激光束的各种参数,如:强度分布、束宽、形状、位置和相对功率。软件还提供光束分析设置和结果的报告功能。
BeamOn-WSR每次都以不同的衰减或电子快门速度进行测量。
一套完整的激光束分析系统,包括一个CCD相机、一个带有一组 4xND 滤镜(ND8、ND64、ND200 和 ND1000)的内置滤镜轮、内置一个(可拆卸)IR 边缘滤光片、USB2.0接口、软件和用户手册(CD /优盘),便携手提箱。
采用无失真传感器镀膜新技术
光束分析仪 BeamOn WSR
特点 主要应用
  • 独特性:190nm 至 1600nm 的宽光谱范围
  • 多功能:可测量连续光和脉冲光的光束轮廓、光束质心和位置的完整测试站
  • 便携式:基于用于笔记本电脑(或台式机)的 USB 2.0 接口
  • 易于使用:用户友好的软件,在线帮助程序
  • 附件:用于更大光斑和高功率衰减的完整配件
  • 宽光谱范围光束分析
  • 激光器的质量控制
  • 激光束分析:强度分布,光束尺寸,位置,相对功率
  • 多波长激光对准


 
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¥49,500.00

光束分析仪BeamOn U3-E

光束分析仪BeamOn U3-E
由于BeamOn U3-E的特殊性, Beam On U3- E 实际上是一个各种激光束的总测量站。其235万像素的高分辨率探测器具有 16 位动态范围和 350 - 1350nm 的光谱响应。通过一整套的附件,该设备的功能性大大提高,可以测量高功率和低功率的以及大小光束的激光器测量。USB 3.0接口提高了刷新率。对于极端功率水平,可轻松连接加压气冷光束采样器,以测量几千瓦的激光束。
一套完整的激光束分析系统,包括一个相机、带电动内置滤光片轮、IR 边缘滤光片、USB3.0数据线、应用软件(CD/闪存卡)、安装支杆、35 毫米遮光罩、手提箱。
光束分析仪BeamOn U3-E
特点
  • 创新的光束分析仪 (1/1.2”)
  • 40 Hz
  • 高分辨率(2.35百万像素)16位动态范围
  • USB 3.0
  • 完整的测试站,内置电动过滤轮和全套配件
  • 多个有效区域用于多光束测量
  • 多功能测量 – 测量轮廓、相对功率和位置
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BeamOn HR 1″光斑分析仪

BeamOn HR 1″光斑分析仪
BeamOn HR 1”是一款创新的高分辨率相机,具有2000万像素,2.4 x 2.4微米像素尺寸,在近红外NIR的光谱范围灵敏度增强,光谱范围可达1350 nm。
 
BeamOn HR 1″光斑分析仪
产品特点
  • 多活动区域,用于多光束分析
  • 通用性-测量轮廓、相对功率和位置
  • 激光束和VCSEL阵列的平行测量
  • 宽光谱范围从深紫外到1350 nm
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M²激光束质量分析仪

M²激光束质量分析仪
以色列DUMA公司提供的M2光束质量分析仪由七刀口式光束分析仪和移动平台组成,通过采集多个测量面实现对M²因子的测量,整体准确度保持在±5%范围内,满足用户对光束质量参数的需求,主要包括M2因子,发散角以及束腰参数等数据的检测。
由于光斑分析仪应用刀口式扫描的原理,需要通过刀口截取激光面,因此无法实现对脉冲激光的检测。为了满足用户对测量激光种类的需求,我们为用户提供了特殊型号选择,700755。该型号采取CMOS传感器搭配移动平台,可以实现对350-1600nm波段脉冲激光的测量,解决了用户对脉冲激光检测的需求。刀口式扫描分析原理的测量精度与光束尺寸无关,因此对于微米级的激光束,刀口扫描式分析相比于狭缝或针孔式原理的测量精度略高,M2Beam激光光束分析仪可以实现实时监控激光光束质量,配置USB3.0接口,通过连接移动端,实现数据快速传输以及便捷使用。
联合光科提供M2Beam光束质量分析仪的普通版本以及高功率版本,通过配置风冷束流采样器,可以实现高功率的检测,从而保护探测头不受功率损伤。
M²激光束质量分析仪
特点
  • 可检测连续激光以及脉冲激光
  • 独特的断层图像重建技术
  • 透镜尺寸25mm,可以实现较大光束直径的测量
  • USB3.0接口快速数据传输
  • 激光质量监控
  • 可配置采样器,实现高功率激光检测
  • 即插即用,使用便捷
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