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可见光-短波红外焦平面测试系统
工作范围在可见光、近红外以及短波红外的电子成像探测器生成的二维电子图像在工业、国防、安全、科研、环保、医疗等领域有着重要的应用。工作范围在VIS/NIR波段的成像探测器几乎全部基于硅材料的技术：彩色或者单色制式的CCD、 CMOS. ICCD、EMCCD、EBAPS、sCMOS等。彩色VIS/NIR探测器的工作波段只局限于可见光波段而单色VIS/NIR探测器的工作波段则可以达到1000nm。
InGaAs成像探测器的工作范围在SWIR波段：非制冷类型工作在900nm-1700nm；制冷类型工作在1000nm到约2200nm以及特殊的带宽从600nm到1700nm。
由黑硅材料研制的成像探测器在红外波段（可到1300nm或者更长）具有更高的灵敏度，目前是市场上的新技术。
VIT测试系统是一个可扩展的用于测试硅成像探测器、黑硅成像探测器以及InGaAs成像探测器的测试系统，支持硅/黑硅/InGaAs成像探测器所有重要参数的测试。
InGaAs成像探测器的工作范围在SWIR波段：非制冷类型工作在900nm-1700nm；制冷类型工作在1000nm到约2200nm以及特殊的带宽从600nm到1700nm。
由黑硅材料研制的成像探测器在红外波段（可到1300nm或者更长）具有更高的灵敏度，目前是市场上的新技术。
VIT测试系统是一个可扩展的用于测试硅成像探测器、黑硅成像探测器以及InGaAs成像探测器的测试系统，支持硅/黑硅/InGaAs成像探测器所有重要参数的测试。
| VIT测试系统组成 | VIT测试系统测试功能 | ||
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