可见光-短波红外焦平面测试系统 | 联合光科
可见光-短波红外焦平面测试系统
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工作范围在可见光、近红外以及短波红外的电子成像探测器生成的二维电子图像在工业、国防、安全、科研、环保、医疗等领域有着重要的应用。工作范围在VIS/NIR波段的成像探测器几乎全部基于硅材料的技术:彩色或者单色制式的CCD、 CMOS. ICCD、EMCCD、EBAPS、sCMOS等。彩色VIS/NIR探测器的工作波段只局限于可见光波段而单色VIS/NIR探测器的工作波段则可以达到1000nm。
InGaAs成像探测器的工作范围在SWIR波段:非制冷类型工作在900nm-1700nm;制冷类型工作在1000nm到约2200nm以及特殊的带宽从600nm到1700nm。
由黑硅材料研制的成像探测器在红外波段(可到1300nm或者更长)具有更高的灵敏度,目前是市场上的新技术。
VIT测试系统是一个可扩展的用于测试硅成像探测器、黑硅成像探测器以及InGaAs成像探测器的测试系统,支持硅/黑硅/InGaAs成像探测器所有重要参数的测试。
VIT测试系统组成 VIT测试系统测试功能    
  • 双光源
  • 探测器控制器
  • 图像采集卡
  • PC组
  • 测试软件(DIP控制软件,CON控制软件,VITO测试软件)
  • 辐射参数:相对光谱灵敏度,量子效率,灵敏度,动态范围,线性度,NEI,固定图形噪声,非均匀性,信噪比,坏像素数, 3D噪声
  • 成像参数:调至传递函数, 分辨率, 最小可分辨对比度, 视场。
   
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