OptiSurf®中心厚度测量仪
全欧光学中心厚度测量仪,采用非接触式的测量方法,集成了OptiSurf ®镜面定位仪的功能,配有定心机械卡口,可测量单个球面透镜,非球面透镜,柱面镜,双胶合透镜,三胶合透镜和平面镜等光学元件的中心厚度,也可测量光学系统中单个元件的中心厚度与空气间隔。该产品可用于紫外(UV),可见光(VIS)和红外(IR)光学元件中心厚度和光学镜头及光学系统空气间隔的检测,特别是对远红外镜头(LWIR)的测量,有较高的测量精度与重复精度,测量镜片的较大光学厚度可达800mm,较高精度达0.15微米,可选配温度及气压传感器。中心厚度测量仪采用低相干干涉仪测量原理,可自动扫描识别被测物体,一次性测量光学系统中所有表面的距离,从而给出用户需要的结果,可为后续光学镜头和光学系统的装配提供质量保证,这在光学镜头前期研发阶段尤为重要。