OptiSurf®中心厚度测量仪
全欧光学中心厚度测量仪，采用非接触式的测量方法，集成了OptiSurf ®镜面定位仪的功能，配有定心机械卡口，可测量单个球面透镜，非球面透镜，柱面镜，双胶合透镜，三胶合透镜和平面镜等光学元件的中心厚度，也可测量光学系统中单个元件的中心厚度与空气间隔。该产品可用于紫外（UV），可见光（VIS）和红外（IR）光学元件中心厚度和光学镜头及光学系统空气间隔的检测，特别是对远红外镜头（LWIR）的测量，有较高的测量精度与重复精度，测量镜片的最大光学厚度可达800mm，最高精度达0.15微米，可选配温度及气压传感器。中心厚度测量仪采用低相干干涉仪测量原理，可自动扫描识别被测物体，一次性测量光学系统中所有表面的距离，从而给出用户需要的结果，可为后续光学镜头和光学系统的装配提供质量保证，这在光学镜头前期研发阶段尤为重要。
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