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Lens Thick非接触式光学测厚仪80-1
利用低相干光干涉测量方法来精确测量厚度，具有很好的空间定位特性
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产品型号 80-1
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LensThick光学测厚仪的操作简单，每次可轻松获得可靠的厚度值。测量数据经过数字信号处理器计算，通过USB传输到PC，再以图形的形式显示在用户界面，可直接读取每层厚度值，操作更简单、更直观。
典型应用
测量软件
光学测厚仪使用LensThick软件可实时显示被测试产品的厚度和干涉信号，以便实时优化。
自动峰值模式：使用操作员创建的样品设计文件，可以定义最多32个反射面（31层）的预期峰值位置，软件可自动识别在指定的阈度内最接近预期峰值位置的峰值，从而计算并输出每层的厚度。
此外，软件还带有判据功能，即超出设计值的公差范围，数据显示为红色。这些功能对质量控制是非常快速有效的。
典型应用
- 光学元件和透镜组件：测量单个镜片以及镜头组包括空气间隔
- 医用导管窥镜：可同时测量管壁厚、内径和外径
- 隐形眼镜和人工晶状体：测量中心厚度、矢高和群折射率
- 隐形眼镜和人工晶状体：测量中心厚度、矢高和群折射率
- LCD、LED、OLED和AMOLED显示屏：测量总厚度和各层厚度，包括LOCA（液体光学透明粘合剂）层
- 抛光玻璃：测量化学腐蚀前后的厚度或抛光工艺，使玻璃板更薄、更轻
- 半导体：硅/砷化镓晶片
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| 测量过程 | .jpg) |
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测量软件
光学测厚仪使用LensThick软件可实时显示被测试产品的厚度和干涉信号，以便实时优化。
自动峰值模式：使用操作员创建的样品设计文件，可以定义最多32个反射面（31层）的预期峰值位置，软件可自动识别在指定的阈度内最接近预期峰值位置的峰值，从而计算并输出每层的厚度。
此外，软件还带有判据功能，即超出设计值的公差范围，数据显示为红色。这些功能对质量控制是非常快速有效的。
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| 软件界面 | 测量原理图 |
