Lens Thick非接触式光学测厚仪 | 联合光科
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Lens Thick非接触式光学测厚仪
Lens Thick非接触式光学测厚仪
Lens Thick非接触式光学测厚仪
LensThick光学测厚仪的操作简单，每次可轻松获得可靠的厚度值。测量数据经过数字信号处理器计算，通过USB传输到PC，再以图形的形式显示在用户界面，可直接读取每层厚度值，操作更简单、更直观。
典型应用 
  • 光学元件和透镜组件：测量单个镜片以及镜头组包括空气间隔
  • 医用导管窥镜：可同时测量管壁厚、内径和外径 
  • 隐形眼镜和人工晶状体：测量中心厚度、矢高和群折射率
  • 隐形眼镜和人工晶状体：测量中心厚度、矢高和群折射率
  • LCD、LED、OLED和AMOLED显示屏：测量总厚度和各层厚度，包括LOCA（液体光学透明粘合剂）层
  • 抛光玻璃：测量化学腐蚀前后的厚度或抛光工艺，使玻璃板更薄、更轻
  • 半导体：硅/砷化镓晶片
特征
主要优势
  • 非接触式测量，不会造成元件表面损坏或变形。
  • 最多可同时测量31层厚度。
  • 用于精确定位测量位置的可见光束。
  • 最高精度±0.1微米。
  • 基于内部固有长度标 准，实时显示测量数据。
  • 测量重复性达±0.02微米。
  • 测量结果可追溯至NIST标准。
  • 集成装置，操作简便。
  • 测量最小物理厚度可达16微米（折射率1.5时）。
  
 
测量过程
  • 将光学测量头对准被测产品。
  • 激光通过光学测量头照射到材料表面。
  • 光学测量头收集反射光并将其返回到系统的干涉仪进行分析。
  • 测量数据通过USB传输到电脑。
  • LensThick软件用于显示测量结果、设置参数及输出数据报告。

测量软件
光学测厚仪使用LensThick软件可实时显示被测试产品的厚度和干涉信号，以便实时优化。
自动峰值模式：使用操作员创建的样品设计文件，可以定义最多32个反射面（31层）的预期峰值位置，软件可自动识别在指定的阈度内最接近预期峰值位置的峰值，从而计算并输出每层的厚度。
此外，软件还带有判据功能，即超出设计值的公差范围，数据显示为红色。这些功能对质量控制是非常快速有效的。
 
软件界面 测量原理图
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