M²激光束质量分析仪 | 联合光科
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M²激光束质量分析仪
M²激光束质量分析仪
M²激光束质量分析仪
以色列DUMA公司提供的M2光束质量分析仪由七刀口式光束分析仪和移动平台组成，通过采集多个测量面实现对M²因子的测量，整体准确度保持在±5％范围内，满足用户对光束质量参数的需求，主要包括M2因子，发散角以及束腰参数等数据的检测。
由于光斑分析仪应用刀口式扫描的原理，需要通过刀口截取激光面，因此无法实现对脉冲激光的检测。为了满足用户对测量激光种类的需求，我们为用户提供了特殊型号选择，700755。该型号采取CMOS传感器搭配移动平台，可以实现对350-1600nm波段脉冲激光的测量，解决了用户对脉冲激光检测的需求。刀口式扫描分析原理的测量精度与光束尺寸无关，因此对于微米级的激光束，刀口扫描式分析相比于狭缝或针孔式原理的测量精度略高，M2Beam激光光束分析仪可以实现实时监控激光光束质量，配置USB3.0接口，通过连接移动端，实现数据快速传输以及便捷使用。
联合光科提供M2Beam光束质量分析仪的普通版本以及高功率版本，通过配置风冷束流采样器，可以实现高功率的检测，从而保护探测头不受功率损伤。
特征
特点
  • 可检测连续激光以及脉冲激光
  • 独特的断层图像重建技术
  • 透镜尺寸25mm,可以实现较大光束直径的测量
  • USB3.0接口快速数据传输
  • 激光质量监控
  • 可配置采样器，实现高功率激光检测
  • 即插即用，使用便捷
产品列表

M²激光束质量分析仪

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产品编号
规格参数
光谱范围
激光功率范围
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700754
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Si ：350 - 1100 nm InGaAs ：800 - 1800nm UV-Enhanced：190 - 1100nm InGaAs enhanced ：800 – 2700nm
100 µW – 1W (with supplied internal filters for the Si version) 100 µW – 5 mW for InGaAs & UV versions Up to 4 kW for HP version
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700755
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350-1350 nm (VIS NIR)，内置特殊CMOS技术
10µW-100 mW，内置滤光轮 HP：到达4KW
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