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波前测量仪
波前测量仪
全欧光学WaveMaster波前测量仪用于球面透镜,非球面透镜和光学系统的波前测量,集成了准直系统,扩束或缩束系统,高精度样品台,多种光源和WaveSensor波前传感器。此传感器采用夏克-哈特曼传感器原理,用于平面、球面、非球面面型的检测,光学系统像差检测,输出激光光束质量检测,光束动态变化检测,自适应系统波前的探测,并有针对大口径光学和人工晶体波前检测的解决方案。WaveMaster波前测量仪主要用来测量大型双远心镜头的全场波前,还可给出被测样品的面型(PV和RMS),泽尼克系数(Zernike),点扩散函数(PSF),调制传递函数,斯特列尔比,楔角。同时,该产品也可用于人工晶体在空气中或原位中的检测,晶体低阶和高阶的相差,晶体的调制传递函数(MTF),晶体的点扩散函数(PSF),晶体屈光度和像差。软件具有多种模块功能,简单易用,用户可根据需要进行选择。

WaveSensor®波前传感器

WaveSensor®系列产品是应用哈特曼—夏克传感器的测量原理研制而成的,并配备专门的操作与分析软件,可用于激光光束质量及其动态变化的诊断、光学系统像质的检验、介质扰动对光束质量影响的测量、大型球面镜镜面面形精度的检测等。利用WaveSensor®可获得丰富的光束质量及空间、时间信息,是深入研究激光光束和光学系统质量及其动态变化过程、分析影响因素的有力手段,因此WaveSensor®已成为检测各类大型反射镜面形的一种专用设备。

应用范围:

                       
     
    

 
        
波前传感器透射模式应用示例

 
  • 常规光学元件面形检测(平面、球面、透镜等)          
  • 大口径光学元件检测
  • 光学系统像差检测
  • 激光器输出波面检测
  • 光束质量诊断
  • 光束动态变化测量
  • 自适应系统的波前探测
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WaveMaster® COMPACT紧凑型波前测量仪

WaveMaster® COMPACT系列产品可以简单快速的完成对球面或非球面镜片波前质量的检测,并运用泽尼克多项式实时分析波前数据,在生产和研发上都有着广泛应用。WaveMaster® COMPACT Universal是专业级的波前测量仪,集成了WaveMaster® COMPACT和WaveMaster® COMPACT Reflex所有功能。

应用范围:

  
  • 各种球面或非球面镜片光学波前面和镜片或镜头的表面面形的检测。
 
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WaveMaster® LAB Horizontal大口径研发型波前测量仪

WaveMaster® LAB Horizontal是一款非常适合在实验室里应用的仪器。它作为一个实验装置台,使用灵活,可使不同的光学结构放置在同一水平方向测量。它可提供透射式无限轭或有限轭模式进行测量,适用于口径较大的样品。

应用范围:

            
  • 适用于实验室内大口径精密镜头或镜片的波前测量。
 
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WaveMaster®PRO量产型波前测量仪

WaveMaster® PRO系列产品是为了适应波前质量的大批量检测的需求而研发的两款仪器,可自行设置合格标准,并根据该标准自动判定合格和不合格。WaveMaster® PRO和WaveMaster® PRO reflex配备托盘系统,实现对单个小镜片的大批量检测。WaveMaster® PRO Wafer则可以对晶圆级镜头的波前进行快速检测。

应用范围:

                                           
  • 生产线上的大批量镜头波前和表面面形的检测
  • 晶圆级镜头的波前检测
 
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WaveMaster® Smartgage小型表面面型检测仪

WaveMaster® Smartgage是一台检测小型球面或平面镜片表面轮廓的非常理想的工具。它结构小巧,便于在生产车间放置。WaveMaster® Smartgage采用先进的哈特曼一夏克技术,只需一秒钟即可判定产品是否合格,使高品质的现场管理成为可能。

使用范围:

                                 
  • 材料:玻璃、陶瓷、塑料和晶体的抛光面
  • 加工过程:研磨抛光、玻璃或塑料注塑、精密车床加工
  • 样品直径:球面为1…25.4mm、平面为5…25.4mm
  • 样品反射率:1…100%
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