电光Q开关.jpg)
返回上一级
WaveMaster® PLAN平面元件波前测量仪
WaveMaster® PLAN适用于使用夏克哈特曼传感器的波前分析对平面进行质量检查。
产品特点
产品特点
- 平面光学元件的综合波前分析
- 快速简便的测量：手动放置样品，并通过X-Y表进行调整
- 通过抗振结构实现稳定且与环境无关的测量系统
产品列表
WaveMaster® PLAN平面元件波前测量仪
文件
产品编号
产品名称
货期
价格
购买
| 产品编号 | 750173 | 750174 |
| 产品型号 | WaveMaster® PLAN | WaveMaster® PRO 2 PLAN |
| 测量模式 | 透射式 | 透射式 |
| 测试波长 | 532nm | 532nm |
| 样品承载台 | 单孔手动定位 | 多孔位托盘 |
| 波前精度 | <λ/20（RMS） | <λ/20（RMS） |
| 波前重复性 | <λ/200（RMS） | <λ/200（RMS） |
| 动态范围 | 2000λ | 2000λ |
| 测量频率 | 16Hz | 取决于样品及托盘设计 |
| 微透镜阵列 | 138×138 | 138×138 |
| 样品口径 | 0.5mm...14mm取决于望远镜 | 0.5mm...14mm取决于望远镜 |
