WaveMaster® PLAN平面元件波前测量仪 | 联合光科
WaveMaster® PLAN平面元件波前测量仪
WaveMaster® PLAN平面元件波前测量仪
WaveMaster® PLAN平面元件波前测量仪
WaveMaster® PLAN适用于使用夏克哈特曼传感器的波前分析对平面进行质量检查。

产品特点
  • 平面光学元件的综合波前分析
  • 快速简便的测量:手动放置样品,并通过X-Y表进行调整
  • 通过抗振结构实现稳定且与环境无关的测量系统
产品列表

WaveMaster® PLAN平面元件波前测量仪

文件
产品编号
产品名称
货期
价格
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产品编号 750173 750174
产品型号 WaveMaster® PLAN WaveMaster® PRO 2 PLAN
测量模式 透射式 透射式
测试波长 532nm 532nm
样品承载台 单孔手动定位 多孔位托盘
波前精度 <λ/20(RMS) <λ/20(RMS)
波前重复性 <λ/200(RMS) <λ/200(RMS)
动态范围 2000λ 2000λ
测量频率 16Hz 取决于样品及托盘设计
微透镜阵列 138×138 138×138
样品口径 取决于望远镜 取决于望远镜

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