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WaveMaster® LAB Horizontal大口径研发型波前测量仪 750117
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技术参数 相关产品 详情描述
WaveMaster® LAB Horizontal大口径研发型波前测量仪

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WaveMaster® PRO 量产型波前测量仪

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WaveMaster® PRO Wafer 量产型波前测量仪

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全欧光学WaveMaster波前测量仪用于球面透镜，非球面透镜和光学系统的波前测量，集成了准直系统，扩束或缩束系统，高精度样品台，多种光源和WaveSensor波前传感器。此传感器采用夏克-哈特曼传感器原理，用于平面、球面、非球面面型的检测，光学系统像差检测，输出激光光束质量检测，光束动态变化检测，自适应系统波前的探测，并有针对大口径光学和人工晶体波前检测的解决方案。
WaveMaster波前测量仪主要用来测量大型双远心镜头的全场波前，还可给出被测样品的面型（PV和RMS），泽尼克系数（Zernike），点扩散函数（PSF），调制传递函数，斯特列尔比，楔角。同时，该产品也可用于人工晶体在空气中或原位中的检测，晶体低阶和高阶的相差，晶体的调制传递函数（MTF），晶体的点扩散函数（PSF），晶体屈光度和像差。软件具有多种模块功能，简单易用，用户可根据需要进行选择。
WaveMaster® LAB Horizontal是一款非常适合在实验室里应用的仪器。它作为一个实验装置台，使用灵活，可使不同的光学结构放置在同一水平方向测量。它可提供透射式无限轭或有限轭模式进行测量，适用于口径较大的样品。


应用范围：

  • 适用于实验室内大口径精密镜头或镜片的波前测量。
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